Investigador especializado en el análisis de superficies, interfaces y películas delgadas a través de técnicas de espectroscopía electrónica y métodos cuantitativos de análisis. Mi objetivo principal es determinar la estructura y composición química de los materiales a escala nanométrica, y correlacionar estos aspectos con sus propiedades funcionales. Mis áreas de especialización abarcan:

Desarrollo y caracterización avanzada de sulfuros metálicos utilizando técnicas químicas en solución, con aplicaciones en energías alternativas y electrónica flexible.

Análisis cuantitativo de espectros fotoelectrónicos de películas delgadas y ultra-delgadas de semiconductores y óxidos de metales de transición, con relevancia en metrología a escala nanométrica.

Análisis estructural mediante refinamiento de Rietveld.

Para el desarrollo de las investigaciones empleo software especializado. Destaco por mi habilidad en el software AAnalyzer para el análisis de datos espectrales y en el manejo de la FullProf Suite, una herramienta poderosa para la determinación de propiedades estructurales. Además, desarrollo programas en el lenguaje Wolfram para resolver problemas físicos no resueltos relacionados con el proceso de fotoemisión. Mi experiencia sólida en la interpretación de resultados, respaldada por la aplicación constante de técnicas avanzadas de caracterización cuantitativa de propiedades estructurales y químicas, se traduce en contribuciones significativas al avance del conocimiento en el campo de la espectroscopía electrónica. Mi liderazgo a nivel nacional se manifiesta a través de colaboraciones con diversos grupos de investigación, enriqueciendo mi perspectiva científica y fortaleciendo el desarrollo de esta área en México. Me comprometo a seguir contribuyendo al avance científico de nuestro país y a la resolución de desafíos metrológicos aún sin resolver dentro de la espectroscopía electrónica para impulsar su crecimiento y desarrollo.