Manuel Quevedo López

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• 2003

  Erratum: Effect of N incorporation on boron penetration from p⁺polycrystalline-Si through HfSi<inf>x</inf>O<inf>y</inf>films (Applied Physics Letters (2003) 82 (4669))

  Quevedo-Lopez, M. A., El-Bouanani, M., Kim, M. J., Gnade, B. E., Wallace, R. M., Visokay, M. R., LiFatou, A., Chambers, J. J. & Colombo, L., 25 ago 2003, En: Applied Physics Letters. p. 1679 1 p.

  Resultado de la investigación: Contribución a una revista › Erratum › revisión exhaustiva
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