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Nanotechnology Ingeniería y ciencia de los materiales
Calibration Ingeniería y ciencia de los materiales
Sensors Ingeniería y ciencia de los materiales
coders Física y astronomía
Precision engineering Ingeniería y ciencia de los materiales
Budget control Ingeniería y ciencia de los materiales
grids Física y astronomía
Surface topography Ingeniería y ciencia de los materiales

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Publicaciones 2009 2017

  • 47 Citas
  • 3 Índice H
  • 15 Artículo
  • 1 Contribución a la conferencia
  • 1 Reseña científica

Geometrical characterisation of a 2D laser system and calibration of a cross-grid encoder by means of a self-calibration methodology

Torralba, M., Díaz-Pérez, L. C., Valenzuela, M., Albajez, J. A. & Yagüe-Fabra, J. A., 1 sep 2017, En : Sensors (Switzerland).

Resultado de la investigación: Contribución a una revistaArtículoInvestigaciónrevisión exhaustiva

coders
Calibration
Lasers
grids
methodology

Mathematical calibration procedure of a capacitive sensor-based indexed metrology platform

Brau Ávila, A., Valenzuela Galván, M., Herrera Jimenez, V. M., Santolaria Mazo, J., Acero Cacho, R. & Aguilar Martín, J. J., 2017, En : Measurement Science and Technology. 28, 3, 13 p., 3.

Resultado de la investigación: Contribución a una revistaArtículoInvestigaciónrevisión exhaustiva

A self-calibration methodology for a 2D-long range motion stage

Torralba, M., Díaz-Pérez, L., Valenzuela, M., Albajez, J., Yagüe-Fabra, J. & Aguilar, J., 1 ene 2016.

Resultado de la investigación: Contribución a una conferenciaArtículoInvestigación

artifacts
methodology
coders
readout
proposals
13 Citas (Scopus)

Large range nanopositioning stage design: A three-layer and two-stage platform

Torralba, M., Valenzuela, M., Yagüe-Fabra, J. A., Albajez, J. A. & Aguilar, J. J., 1 jul 2016, En : Measurement: Journal of the International Measurement Confederation. p. 55-71 17 p.

Resultado de la investigación: Contribución a una revistaReseña científicaInvestigaciónrevisión exhaustiva

platforms
nanotechnology
Nanotechnology
Precision engineering
Measurement errors

A three-layer and two-stage platform for positioning with nanometer resolution and submicrometer accuracy

Torralba, M., Yagüe-Fabra, J. A., Albajez, J. A., Valenzuela, M., Acero, R. & Aguilar, J. J., 1 ene 2014, p. 132-135. 4 p.

Resultado de la investigación: Contribución a una conferenciaArtículoInvestigación

Precision engineering
Surface topography
Nanotechnology
Atomic force microscopy
Finite element method

Proyectos 2014 2017

Actividades 2015 2017

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  • 1 Trabajo editorial