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Publicaciones 2009 2017

  • 49 Citas
  • 3 Índice H
  • 15 Artículo
  • 1 Contribución a la conferencia
  • 1 Reseña científica
2017
1 Cita (Scopus)

Geometrical characterisation of a 2D laser system and calibration of a cross-grid encoder by means of a self-calibration methodology

Torralba, M., Díaz-Pérez, L. C., Valenzuela, M., Albajez, J. A. & Yagüe-Fabra, J. A., 1 sep 2017, En : Sensors (Switzerland).

Resultado de la investigación: Contribución a una revistaArtículoInvestigaciónrevisión exhaustiva

coders
Calibration
Lasers
grids
methodology
1 Cita (Scopus)

Mathematical calibration procedure of a capacitive sensor-based indexed metrology platform

Brau Ávila, A., Valenzuela Galván, M., Herrera Jimenez, V. M., Santolaria Mazo, J., Acero Cacho, R. & Aguilar Martín, J. J., 2017, En : Measurement Science and Technology. 28, 3, 13 p., 3.

Resultado de la investigación: Contribución a una revistaArtículoInvestigaciónrevisión exhaustiva

2016
2 Citas (Scopus)

A self-calibration methodology for a 2D-long range motion stage

Torralba, M., Díaz-Pérez, L., Valenzuela, M., Albajez, J., Yagüe-Fabra, J. & Aguilar, J., 1 ene 2016.

Resultado de la investigación: Contribución a una conferenciaArtículoInvestigación

artifacts
methodology
coders
readout
proposals
14 Citas (Scopus)

Large range nanopositioning stage design: A three-layer and two-stage platform

Torralba, M., Valenzuela, M., Yagüe-Fabra, J. A., Albajez, J. A. & Aguilar, J. J., 1 jul 2016, En : Measurement: Journal of the International Measurement Confederation. p. 55-71 17 p.

Resultado de la investigación: Contribución a una revistaReseña científicaInvestigaciónrevisión exhaustiva

platforms
nanotechnology
Nanotechnology
Precision engineering
Measurement errors
2014

A three-layer and two-stage platform for positioning with nanometer resolution and submicrometer accuracy

Torralba, M., Yagüe-Fabra, J. A., Albajez, J. A., Valenzuela, M., Acero, R. & Aguilar, J. J., 1 ene 2014, p. 132-135. 4 p.

Resultado de la investigación: Contribución a una conferenciaArtículoInvestigación

Precision engineering
Surface topography
Nanotechnology
Atomic force microscopy
Finite element method
15 Citas (Scopus)

Evaluation of different probing systems used in articulated arm coordinate measuring machines

Brau, A., Valenzuela, M., Santolaria, J. & Aguilar, J. J., 1 ene 2014, En : Metrology and Measurement Systems. p. 233-246 14 p.

Resultado de la investigación: Contribución a una revistaArtículoInvestigaciónrevisión exhaustiva

Coordinate measuring machines
evaluation
probes
parameter identification
Gages

Homing sensor system design for a 2D long range nanopositioning moving platform

Acero, R., Albajez, J. A., Yagüe-Fabra, J. A., Torralba, M., Valenzuela, M. & Aguilar, J. J., 1 ene 2014, Homing sensor system design for a 2D long range nanopositioning moving platform. p. 57-62 6 p. (Key Engineering Materials; vol. 615).

Resultado de la investigación: Capítulo del libro/informe/acta de congresoContribución a la conferenciaInvestigación

Systems analysis
Sensors
Nanotechnology
Microscopes
Lasers
2013
2 Citas (Scopus)

Analysis and design of a homing sensor system for a 2D moving platform with nanometer resolution

Acero, R., Albajez, J. A., Yagüe-Fabra, J. A., Torralba, M., Valenzuela, M. & Aguilar, J. J., 1 ene 2013, p. 183-192. 10 p.

Resultado de la investigación: Contribución a una conferenciaArtículoInvestigación

Sensors
Nanotechnology
Microscopes
Lasers

A self-calibration method for the error mapping of a 2D precision sensor

Valenzuela, M., Torralba, M., J.Albajez, A., Yagüe, J. A. & Aguilar, J. J., 1 ene 2013, p. 136-139. 4 p.

Resultado de la investigación: Contribución a una conferenciaArtículoInvestigación

coders
grids
sensors
metrology
thermal expansion
1 Cita (Scopus)

A three-layer and two-stage platform for positioning with nanometer resolution and submicrometer accuracy

Torralba, M., Yagüe-Fabra, J. A., Albajez, J. A., Valenzuela, M., Acero, R. & Aguilar, J. J., 1 ene 2013, p. 110-113. 4 p.

Resultado de la investigación: Contribución a una conferenciaArtículoInvestigación

Precision engineering
Surface topography
Nanotechnology
Atomic force microscopy
Finite element method
2012
3 Citas (Scopus)

Error budgeting as a tool for the design of a 2D moving platform with nanometer resolution

Torralba, M., Valenzuela, M., Acero, R., Yagüe-Fabra, J. A., Albajez, J. A., Aguilar, J. J. & Hocken, R. J., 1 ene 2012, p. 202-205. 4 p.

Resultado de la investigación: Contribución a una conferenciaArtículoInvestigación

Budget control
Nanotechnology
Microscopes
2 Citas (Scopus)

Ultra-precision set-up and reversal technique for the error mapping of a 2D sensor

Valenzuela, M., Yagüe, J. A., Albajez, J. A. & Aguilar, J. J., 1 dic 2012, p. 463-466. 4 p.

Resultado de la investigación: Contribución a una conferenciaArtículoInvestigación

Sensors
Calibration
Thermal expansion
Finite element method
Uncertainty
2011
8 Citas (Scopus)

A thermally-stable setup and calibration technique for 2D sensors

Yagüe-Fabra, J. A., Valenzuela, M., Albajez, J. A. & Aguilar, J. J., 12 abr 2011, En : CIRP Annals - Manufacturing Technology. p. 547-550 4 p.

Resultado de la investigación: Contribución a una revistaArtículoInvestigaciónrevisión exhaustiva

Calibration
Sensors
Thermal expansion
Lasers
Temperature
2010

Development of a thermally stable 2D calibration setup

Yagüe, J. A., Aguilar, J. J., Ontiveros, S., Valenzuela, M. & Albajez, J. A., 1 ene 2010, p. 128-131. 4 p.

Resultado de la investigación: Contribución a una conferenciaArtículoInvestigación

Calibration
Sensors
Charge coupled devices
Optoelectronic devices
Detectors

Error budgeting of a thermally stable calibration setup for two-dimensional sensors

Yagüe-Fabra, J. A., Albajez, J. A., Aguilar, J. J., Valenzuela, M. & Ontiveros, S., 1 dic 2010, p. 148-151. 4 p.

Resultado de la investigación: Contribución a una conferenciaArtículoInvestigación

Budget control
Calibration
Sensors
Thermal expansion
Detectors
2009

Thermal characterisation of a 2D grid encoder

Aguilar, J. J., Yagüe, J. A., Valenzuela, M. & Brau, A., 1 ene 2009, p. 283-286. 4 p.

Resultado de la investigación: Contribución a una conferenciaArtículoInvestigación

Laser mirrors
Machine tools
Calibration
Hot Temperature
Lasers

Traceability in the calibration of low cost opto-electronic sensors for measuring 2D displacement

Yagüe, J. A., Aguilar, J. J., Valenzuela, M. & Lope, M. A., 28 dic 2009, p. 244-253. 10 p.

Resultado de la investigación: Contribución a una conferenciaArtículoInvestigación

coders
sensors
detectors
grids
electronics