Effect of depth of traps in ZnO polycrystalline thin films on ZnO-TFTs performance

Maria I. Medina-Montes, Leonardo A. Baldenegro-Perez, Raul Sanchez-Zeferino, Lizeth Rojas-Blanco, Marcelino Becerril-Silva, Manuel A. Quevedo-Lopez, Rafael Ramirez-Bon

Resultado de la investigación: Contribución a una revistaArtículo

4 Citas (Scopus)
Idioma originalInglés estadounidense
Páginas (desde-hasta)119-123
Número de páginas5
PublicaciónSolid-State Electronics
DOI
EstadoPublicada - 1 sep 2016

Huella Profundice en los temas de investigación de 'Effect of depth of traps in ZnO polycrystalline thin films on ZnO-TFTs performance'. En conjunto forman una huella única.

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