Electrical characterization of process induced effects on non-silicon devices

Chadwin D. Young, Pavel Bolshakov, Rodolfo A. Rodriguez-Davila, Peng Zhao, Ava Khosravi, Israel Mejia, Manuel Quevedo-Lopez, Christopher L. Hinkle, Robert M. Wallace

Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congreso › Contribución a la conferencia › revisión exhaustiva

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Electrical characterization of process induced effects on non-silicon devices'. En conjunto forman una huella única.

Ingeniería y ciencia de los materiales