Electronic properties of Co and Ni silicides: A theoretical approach using extended Huckel method

D. H. Galvan, A. P Posada Amarillas, J. C Samaniego Reyna, M. García-Méndez, M. H. Farías

Resultado de la investigación: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

3 Citas (Scopus)
Idioma originalInglés estadounidense
Páginas (desde-hasta)2905-2913
Número de páginas9
PublicaciónPhysica Status Solidi (B) Basic Research
DOI
EstadoPublicada - 1 nov 2004

Huella Profundice en los temas de investigación de 'Electronic properties of Co and Ni silicides: A theoretical approach using extended Huckel method'. En conjunto forman una huella única.

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