Electronic properties of Co and Ni silicides: A theoretical approach using extended Huckel method

D. H. Galvan*, A. P.Posada Amarillas, J. C.Samaniego Reyna, M. García-Méndez, M. H. Farías

*Autor correspondiente de este trabajo

Producción científica: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

4 Citas (Scopus)

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Electronic properties of Co and Ni silicides: A theoretical approach using extended Huckel method'. En conjunto forman una huella única.

Ingeniería y ciencia de los materiales

Física y astronomía

Química