Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Failure Probability due to Radiation-induced Effects in FinFET SRAM Cells under Process Variations'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
- Ponderación
- Alfabéticamente
Failure Probability due to Radiation-induced Effects in FinFET SRAM Cells under Process Variations
Victor Champac*, Hector Villacorta*, R. Gomez-Fuentes, Fabian Vargas, Jaume Segura
*Autor correspondiente de este trabajo
Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congreso › Contribución a la conferencia › revisión exhaustiva
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Cita
(Scopus)