Hot-carrier- and constant-voltage-stress-induced low-frequency noise in nitrided high-k dielectric MOSFETs

M. Shahriar Rahman, Tanvir Hasan Morshed, Zeynep Çelik-Butler, M. A. Quevedo-Lopez, A. Shanware, Luigi Colombo

Producción científica: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

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Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Hot-carrier- and constant-voltage-stress-induced low-frequency noise in nitrided high-k dielectric MOSFETs'. En conjunto forman una huella única.

Ingeniería y ciencia de los materiales

Química