Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Hot carrier stress investigation of zinc oxide thin film transistors with an al2o3 gate dielectric'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
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Hot carrier stress investigation of zinc oxide thin film transistors with an al2o3 gate dielectric
Rodolfo A. Rodriguez-Davila, Israel Mejia, Manuel Quevedo-Lopez, Chadwin D. Young
Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congreso › Contribución a la conferencia › revisión exhaustiva
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Citas
(Scopus)