Interaction between a guided mode and a surface nano defect

Javier Durán-Favela, Jorge Gaspar-Armenta, Raúl D. García-Llamas*, José Valenzuela-Benavides

*Autor correspondiente de este trabajo

Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congresoContribución a la conferenciarevisión exhaustiva

Resumen

The electromagnetic near-field produced by the interaction between a transverse electric guided mode and a surface nano-defect in a planar structure is studied. A Fourier Transform technique is used to obtain the surface defect profile.

Idioma originalInglés
Título de la publicación alojadaOptical Interference Coatings, OIC 2004
EditorialOptica Publishing Group (formerly OSA)
ISBN (versión digital)3540003649
EstadoPublicada - 2004
EventoOptical Interference Coatings, OIC 2004 - Tucson, Estados Unidos
Duración: 27 jun. 20042 jul. 2004

Serie de la publicación

NombreOptics InfoBase Conference Papers
ISSN (versión digital)2162-2701

Conferencia

ConferenciaOptical Interference Coatings, OIC 2004
País/TerritorioEstados Unidos
CiudadTucson
Período27/06/042/07/04

Nota bibliográfica

Publisher Copyright:
© 2004 OSA - The Optical Society. All rights reserved.

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Interaction between a guided mode and a surface nano defect'. En conjunto forman una huella única.

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