ISSLEDOVANIE DONORNO-AKTSEPTORNOGO VZAIMODEISTVIYA V TVERDYKH RASTVORAKH (InAs)//1// minus //x(CdTe)//x METODOM MIKROTVERDOSTI.

G. A. Kuz'mina*, V. N. Morozov, V. G. Chernov

*Autor correspondiente de este trabajo

Producción científica: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

Resumen

An anomalous concentration dependence of the microhardness in (InAs)//1// minus //x(CdTe)//x solid solutions near the pure components is noted which is attributed to a change in the degree of dissociation of the components. A method of determining the degree of dissociation of the components and the reaction constant of donor-acceptor pair formation in solid solutions of semiconductors with heterovalent substitution from the results of microhardness measurements is proposed. The estimated interaction energies of donor-acceptor pairs in InAs and CdTe are close to the Conlomb energies.

Título traducido de la contribuciónStudy of the Donor-acceptor Interaction in (InAs)1 - x(CdTe)x Solid Solutions by the Microhardness Method.
Idioma originalRuso
Páginas (desde-hasta)1382-1384
Número de páginas3
PublicaciónNeorganiceskie materialy
Volumen17
N.º8
EstadoPublicada - 1981

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'ISSLEDOVANIE DONORNO-AKTSEPTORNOGO VZAIMODEISTVIYA V TVERDYKH RASTVORAKH (InAs)//1// minus //x(CdTe)//x METODOM MIKROTVERDOSTI.'. En conjunto forman una huella única.

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