Low frequency noise degradation in 45 nm high-k nMOSFETs due to hot carrier and constant voltage stress

M. Shahriar Rahman, Zeynep Çelik-Butler, Manuel M.A. Quevedo-Lopez, Ajit Shanware, Luigi Colombo

Resultado de la investigación: Contribución a una conferenciaArtículo

Idioma originalInglés estadounidense
Páginas263-266
Número de páginas4
DOI
EstadoPublicada - 20 jul 2009
Publicado de forma externa
EventoAIP Conference Proceedings -
Duración: 20 jul 2009 → …

Conferencia

ConferenciaAIP Conference Proceedings
Período20/07/09 → …

Huella Profundice en los temas de investigación de 'Low frequency noise degradation in 45 nm high-k nMOSFETs due to hot carrier and constant voltage stress'. En conjunto forman una huella única.

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    Rahman, M. S., Zeynep Çelik-Butler, M.A. Quevedo-Lopez, M., Shanware, A., & Colombo, L. (2009). Low frequency noise degradation in 45 nm high-k nMOSFETs due to hot carrier and constant voltage stress. 263-266. Papel presentado en AIP Conference Proceedings, . https://doi.org/10.1063/1.3140447