Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Positive Bias Instability in ZnO TFTs with Al2O3 Gate Dielectric'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
- Ponderación
- Alfabéticamente
Positive Bias Instability in ZnO TFTs with Al2O3 Gate Dielectric
Pavel Bolshakov, Rodolfo A. Rodriguez-Davila, Manuel Quevedo-Lopez, Chadwin D. Young
Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congreso › Contribución a la conferencia › revisión exhaustiva
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Citas
(Scopus)