Positive Bias Instability in ZnO TFTs with Al2O3 Gate Dielectric
- Pavel Bolshakov
- , Rodolfo A. Rodriguez-Davila
- , Manuel Quevedo-Lopez
- , Chadwin D. Young
Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congreso › Contribución a la conferencia › revisión exhaustiva
2
El enlace se abre en una pestaña nueva
Citas
(Scopus)