Huella
Profundice en los temas de investigación de 'PVP-SiO2 and PVP-TiO2 hybrid films for dielectric gate applications in CdS-based thin film transistors'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
- Ponderación
- Alfabéticamente
PVP-SiO2 and PVP-TiO2 hybrid films for dielectric gate applications in CdS-based thin film transistors
M. S. de Urquijo-Ventura, M. G.Syamala Rao*, S. Meraz-Davila, J. A.Torres Ochoa, M. A. Quevedo-Lopez, R. Ramirez-Bon
*Autor correspondiente de este trabajo
Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva
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Citas
(Scopus)