Semi empirical cadmium sulfide transistor model combining grain defects and semiconductor thickness variation

Naga Surya Pasupuleti, Ron Pieper, Wudyalew Wondmagegn, Andrew L. Coogan, Israel Mejia, Ana Salas-Villasenor, Manuel Quevedo-Lopez

Resultado de la investigación: Contribución a una conferenciaArtículo

Idioma originalInglés estadounidense
Páginas6-11
Número de páginas6
DOI
EstadoPublicada - 10 jul 2013
Publicado de forma externa
EventoProceedings of the Annual Southeastern Symposium on System Theory -
Duración: 10 jul 2013 → …

Conferencia

ConferenciaProceedings of the Annual Southeastern Symposium on System Theory
Período10/07/13 → …

Huella Profundice en los temas de investigación de 'Semi empirical cadmium sulfide transistor model combining grain defects and semiconductor thickness variation'. En conjunto forman una huella única.

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    Pasupuleti, N. S., Pieper, R., Wondmagegn, W., Coogan, A. L., Mejia, I., Salas-Villasenor, A., & Quevedo-Lopez, M. (2013). Semi empirical cadmium sulfide transistor model combining grain defects and semiconductor thickness variation. 6-11. Papel presentado en Proceedings of the Annual Southeastern Symposium on System Theory, . https://doi.org/10.1109/SSST.2013.6524957