Semi empirical cadmium sulfide transistor model combining grain defects and semiconductor thickness variation

Naga Surya Pasupuleti, Ron Pieper, Wudyalew Wondmagegn, Andrew L. Coogan, Israel Mejia, Ana Salas-Villasenor, Manuel Quevedo-Lopez

Resultado de la investigación: Contribución a una conferenciaArtículo

Huella Profundice en los temas de investigación de 'Semi empirical cadmium sulfide transistor model combining grain defects and semiconductor thickness variation'. En conjunto forman una huella única.

Física y astronomía