Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Structure and refractive index of thin alumina films grown by atomic layer deposition'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
- Ponderación
- Alfabéticamente
Structure and refractive index of thin alumina films grown by atomic layer deposition
M. Tulio Aguilar-Gama, Erik Ramírez-Morales, Z. Montiel-González*, A. Mendoza-Galván, Mérida Sotelo-Lerma, P. K. Nair, Hailin Hu
*Autor correspondiente de este trabajo
Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva
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Citas
(Scopus)