Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Systematic gate stack optimization to maximize mobility with HfSiON EOT scaling'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
- Ponderación
- Alfabéticamente
Systematic gate stack optimization to maximize mobility with HfSiON EOT scaling
M. A. Quevedo-Lopez, P. D. Kirsch, S. Krishnan, H. N. Alshareef, J. Barnett, H. R. Harris, A. Neugroschel, F. S. Aguirre-Tostado, B. E. Gnade, M. J. Kim, R. M. Wallace, B. H. Lee
Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congreso › Contribución a la conferencia › revisión exhaustiva
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Citas
(Scopus)