Traceability in the calibration of low cost opto-electronic sensors for measuring 2D displacement

J. A. Yagüe, J. J. Aguilar, M. Valenzuela, M. A. Lope

Resultado de la investigación: Contribución a una conferencia › Artículo

Idioma original	Inglés estadounidense
Páginas	244-253
Número de páginas	10
DOI	https://doi.org/10.1063/1.3273637
Estado	Publicada - 28 dic 2009
Publicado de forma externa	Sí
Evento	AIP Conference Proceedings - Duración: 28 dic 2009 → …

Conferencia	AIP Conference Proceedings
Período	28/12/09 → …

Huella Profundice en los temas de investigación de 'Traceability in the calibration of low cost opto-electronic sensors for measuring 2D displacement'. En conjunto forman una huella única.

@conference{c6eb2b2d700b4a6dbc7944b2381f85e8,

title = "Traceability in the calibration of low cost opto-electronic sensors for measuring 2D displacement",

author = "Yag{\"u}e, {J. A.} and Aguilar, {J. J.} and M. Valenzuela and Lope, {M. A.}",

year = "2009",

month = dec,

day = "28",

doi = "10.1063/1.3273637",

language = "American English",

pages = "244--253",

note = "AIP Conference Proceedings ; Conference date: 28-12-2009",

}