Traceability in the calibration of low cost opto-electronic sensors for measuring 2D displacement

J. A. Yagüe, J. J. Aguilar, M. Valenzuela, M. A. Lope

Resultado de la investigación: Contribución a una conferenciaArtículo

1 Cita (Scopus)
Idioma originalInglés estadounidense
Páginas244-253
Número de páginas10
DOI
EstadoPublicada - 28 dic 2009
Publicado de forma externa
EventoAIP Conference Proceedings -
Duración: 28 dic 2009 → …

Conferencia

ConferenciaAIP Conference Proceedings
Período28/12/09 → …

Huella Profundice en los temas de investigación de 'Traceability in the calibration of low cost opto-electronic sensors for measuring 2D displacement'. En conjunto forman una huella única.

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    Yagüe, J. A., Aguilar, J. J., Valenzuela, M., & Lope, M. A. (2009). Traceability in the calibration of low cost opto-electronic sensors for measuring 2D displacement. 244-253. Papel presentado en AIP Conference Proceedings, . https://doi.org/10.1063/1.3273637