Sistema Digital de Multiple Razón de Ventana para el Análisis de Transitorios de Niveles Profundos
: PICTS de multiple razon de ventana digital

Tesis doctoral: Tesis de máster

Resumen

Se realiza el muestreo retención y filtrado digital de una señal de corriente transitoria resultado de monitorear la corriente de una muestra de CdS sometida a pulsos de baja frecuencia para estudiar sus parametros de niveles profundos.
Fecha de lectura3 dic. 2018
Idioma originalEspañol (México)
SupervisorLuis Carlos Félix Herrán (Supervisor), José Rafael Benito Noriega Luna (Supervisor) & Roberto Gómez Fuentes (Supervisor)

Palabras clave

  • DLTS
  • PICTS
  • Semiconductores
  • Niveles profundos
  • Razon de ventana

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